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薄膜電阻及厚度測試設(shè)備 可按照需求配置單個(gè)或多個(gè)針對不同樣品的高敏感探頭進(jìn)行測量，并通過顯示模塊輸出。檢測終輸出結(jié)果可顯示為薄膜電阻（Ohms/sq），薄膜電導(dǎo)（Mhos/sq），厚度（單位：um）等。

真空快速退火爐-材料設(shè)備 一般都是以紅外鹵素?zé)魹榘l(fā)熱元件，升溫速度極快，采用熱電偶測溫并采用*的PID控制，具有很高的控溫精度，快速退火爐具有真空裝置，可在多種氣氛下工作。大大提高了其使用范圍。

真空快速退火爐RTP-材料設(shè)備 RTA（快速熱退火）； RTO（快速熱氧化）；注入退火；擴(kuò)散；化合物半導(dǎo)體退火；滲氮；滲硅； 結(jié)晶化與致密化；

探針臺-測試設(shè)備(Analytical Probe Station) 我司代理的探針臺型號很多，有晶圓探針臺、LCD/OLED探針臺、RF探針臺、LD/PD探針臺、高溫探針臺、低溫探針臺、表面電阻探針臺、霍爾效應(yīng)探針臺、PCB檢測臺、Mask檢測臺、LCD/OLED檢測臺、激光修補(bǔ)臺等等。您有任何領(lǐng)域應(yīng)用或已有探針臺的升級要求，請與我們，我們會給您專業(yè)快速的解答。