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深能級瞬態(tài)譜儀整體結構設計合理

更新時間:2020-07-10      點擊次數(shù):1096
   深能級瞬態(tài)譜儀集成多種自動的測量模式及全面的數(shù)據(jù)分析,可以確定雜質的類型、含量以及隨深度的分布,也可用于光伏太陽能電池領域中,分析少子壽命和轉化效率衰減的關鍵性雜質元素和雜質元素的晶格占位,確定是何種摻雜元素和何種元素占位影響少子壽命。
   該儀器測量界面態(tài)速度快,精度高,是生產和科研中可廣為應用的測試技術。隨著電腦技術的發(fā)展,使得在短時間內進行復雜計算成為可能,在純指數(shù)發(fā)射過程模型的基礎上,用各種數(shù)學模型分析測量到的瞬態(tài)過程,如傅里葉轉換、拉普拉斯轉換、多指數(shù)瞬態(tài)擬合、ITS(等溫瞬態(tài)光譜)信號重疊法、溫度掃描信號重疊法(重折疊)。
   深能級瞬態(tài)譜儀是半導體領域研究和檢測半導體雜質、缺陷深能級、界面態(tài)等的重要技術手段。根據(jù)半導體P-N 結、金-半接觸結構肖特基結的瞬態(tài)電容(△C~t)技術和深能級瞬態(tài)譜的發(fā)射率窗技術測量出的深能 級瞬態(tài)譜,深能級瞬態(tài)譜儀是一種具有高檢測靈敏度(檢測靈敏度通常為半導體材料中摻雜濟濃度的萬分之一)的實驗方法,能檢測半導體中微量雜質、缺陷的深能級及界面態(tài)。
   通過對樣品的溫度掃描,可以給出表征半導體禁帶范圍內的雜質、缺陷深能級及界面態(tài)隨溫度(即能量)分布的譜儀,集成多種全自動的測量模式及全面的數(shù)據(jù)分析,可以確定雜質的類型、含量以及隨深度的分布。深能級瞬態(tài)譜儀測量界面態(tài)速度快,精度高,是生產和科研中可廣為應用的測試技術,自動連線檢測;自動電容補償功能,探測靈敏度高瞬態(tài)電流測量;傅里葉轉化功能。     
   利用該系統(tǒng),深能級瞬態(tài)譜儀測量了多晶硅太陽能電池的電容-溫度曲線。實驗發(fā)現(xiàn)當電池兩端外加反向偏壓為-400mV時,有4個明顯深能級,通過改變選定的率窗t1、t2,得到了多晶硅太陽能電池雜質能級的相關物理信息。
 
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